IEC 60191-6-3-2000 半导体器件的机械标准化第6-3部分:绘制表面安装半导体器件封装外形图的一般规则四面扁平封装尺寸的测量方法

作者:标准资料网时间:2024-05-18 14:33:22 浏览:8071 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part6-3:Generalrulesforthepreparationofoutlinedrawingsofsurfacemountedsemiconductordevicepackages;Measuringmethodsforpackagedimensionsofquadflatpacks(QFP)
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化第6-3部分:绘制表面安装半导体器件封装外形图的一般规则四面扁平封装尺寸的测量方法
【标准号】:IEC60191-6-3-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47D
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:表面安装;图纸;工程图;电子设备及元件;标准化;电气工程;半导体器件;外壳;编写;电气外壳;连接;设计;测量技术;测量;定义;定义;力学;电子工程;图例;半导体;多语种的;容器制图;半导体器件的包装;表示法;表面安装器件;特性;尺寸;组件
【英文主题词】:Casedrawing;Components;Connections;Definitions;Design;Dimensions;Drawings;Electricenclosures;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Engineeringdrawings;Illustrations;Measurement;Measuringtechniques;Mechanic;Multilingual;Properties;Representations;Semiconductordevices;Semiconductorpackage;Semiconductors;Standardization;Surfacemounting;Surfacemountingdevices
【摘要】:ThispartofIEC60191stipulatesamethodforquadflatpacks(QFP)measuringdimensionswhichareclassifiedintoFormE.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:01_100_25;31_240
【页数】:
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: IEC 62107-2000 高级激光视盘光盘交换系统规范
下一篇: BS EN 13309-2000 建筑机械.内置电源机械的电磁兼容性